摘要: 目前，在密封类电子元器件的气密性检验工序中，传统检测方法仍然是手工检漏，不但效率低，而且漏检、错检的情况时有发生，为进一步提高检测效率和检测质量，文章研制了一款SJ-Ⅲ型水浸检漏仪，可有效提高电子元器件检漏工序的检测效率和质量，实现一键化操作、智能高效。